講座題目：場發(fā)射掃描電鏡的理論與實(shí)踐

講座時間：2024年11月29日（周五）09：30—10：30

講 座 人：李永良

講座地點(diǎn)：明德樓D202

主講人簡介：

李永良,，北京師范大學(xué)分析測試中心副研究員,，研究方向?yàn)槌练e膜。1988年碩士畢業(yè)于北京鋼鐵學(xué)院（現(xiàn)北京科技大學(xué)），同年入職北京師范大學(xué)分析測試中心電鏡室,，負(fù)責(zé)管理日立X-650掃描電鏡和H-600透射電鏡。2005年開始管理日立S-4800冷場發(fā)射掃描電鏡,。工作以來從事電子顯微鏡的教學(xué)和測試工作三十余年,，對電子顯微鏡有著深刻理解。在國內(nèi)外期刊上合作發(fā)表論文超150篇,，其中第一作者論文38篇,。2024年出版專著《場發(fā)射掃描電鏡的理論與實(shí)踐》。

歡迎各位老師和同學(xué)屆時前來交流,！

主辦單位：材料科學(xué)與工程學(xué)院

日立科學(xué)儀器（北京）有限公司

支持單位：科技處

2024年11月28日